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                二次离子/溅射中性粒子质谱仪
                The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

                MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分▲析二次阴、阳ㄨ离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMSSNMS的光学采样。

                 

                ·光栅控制,增强深度分【析能力
                ·所有能量范围内,离子行程的¤最小扰动,及恒定离子传输
                ·灵敏度高 / 稳定的√脉冲离子计数检测器

                 

                ·质量数范围:   300amu500amu1000amu

                ·检测器:         离子计数探测◥器、正负离子探测器、10cps

                ·质量过滤■器:   3F四级杆

                ·杆直径:         9mm

                ·最高加热:      250

                ·离子源:         电子轰击,可用于SNMSRGA的单根灯∮丝

                 
                  应用介绍
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